0.4-1.1 <Ω·cm>
Resistividad
≤16 <ppma>
Contenido de oxígeno
≤1 <ppma>
Contenido de carbono
≥70 <µs>
Duración de portadores minoritarios
Propiedades del material
Proyectos
Especificaciones
Método de detección
Método de crecimiento
Método Czochralski
--
Cristalinidad
Método Czochralski
--
Tipo de conductividad
Tipo P
Tester del tipo PN
Tama?o
M10：182.2*182.2*φ247mm
G12：210*210*φ295mm
Clasificador de obleas de silicio
Grosor
M10：90-160μm
G12：90-160μm
Clasificador de obleas de silicio
| Proyectos | Especificaciones | Método de detección |
|---|---|---|
| Método de crecimiento | Método Czochralski | -- |
| Cristalinidad | Método Czochralski | -- |
| Tipo de conductividad | Tipo P | Tester del tipo PN |
| Tama?o | M10：182.2*182.2*φ247mm G12：210*210*φ295mm |
Clasificador de obleas de silicio |
| Grosor | M10：90-160μm G12：90-160μm |
Clasificador de obleas de silicio |
Propiedades eléctricas
Proyectos
Especificaciones
Método de detección
Resistividad
0.4-1.1 <Ω·cm>
Clasificador de obleas de silicio
Tiempo de vida de portadores minoritarios
≥ 70 <µs>
Tiempo de vida de portadores minoritarios del tester BCT-400
Contenido de oxígeno
≤16<ppma>
Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier FTIR (ASTM F121-83)
Contenido de carbono
≤1<ppma>
Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier FTIR (ASTM F123-91)
| Proyectos | Especificaciones | Método de detección |
|---|---|---|
| Resistividad | 0.4-1.1 <Ω·cm> | Clasificador de obleas de silicio |
| Tiempo de vida de portadores minoritarios | ≥ 70 <μs> | Tiempo de vida de portadores minoritarios del tester BCT-400 |
| Contenido de oxígeno | ≤16 |
Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier FTIR (ASTM F121-83) |
| Contenido de carbono | ≤1 |
Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier FTIR (ASTM F123-91) |
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