0.4-1.1 <Ω·cm>
Spezifischer Widerstand
≤16 <ppma>
Sauerstoffgehalt
≤1 <ppma>
Kohlenstoffgehalt
≥70 <µs>
Minorit?tstr?ger-Lebensdauer
Materialeigenschaften
Position
Spezifikationen
Prüfverfahren
Wachstumsmethode
Streckziehverfahren
--
Kristallinit?t
Einkristall
--
Leitf?higkeits-Typ
P-Typ
PN-Tester
Ma?e
M10：182.2*182.2*φ247mm
G12：210*210*φ295mm
Siliziumwafer-Sortierer
Dicke
M10：90-160μm
G12：90-160μm
Siliziumwafer-Sortierer
| Position | Spezifikationen | Prüfverfahren |
|---|---|---|
| Wachstumsmethode | Streckziehverfahren | -- |
| Kristallinit?t | Einkristall | -- |
| Leitf?higkeits-Typ | P-Typ | PN-Tester |
| Ma?e | M10：182.2*182.2*φ247mm G12：210*210*φ295mm |
Siliziumwafer-Sortierer |
| Dicke | M10：90-160μm G12：90-160μm |
Siliziumwafer-Sortierer |
Elektrische Eigenschaften
Position
Spezifikationen
Prüfverfahren
Spezifischer Widerstand
0.4-1.1 <Ω·cm>
Siliziumwafer-Sortierer
Minorit?tstr?ger-Lebensdauer
≥ 70 <µs>
Lebensdauer-Tester BCT-400
Sauerstoffgehalt
≤16<ppma>
Fourier-Transform-Infrarot-Spektroskopie
FTIR (ASTM F121-83)
Kohlenstoffgehalt
≤1<ppma>
Fourier-Transform-Infrarot- Spektroskopie
FTIR (ASTM F123-91)
| Position | Spezifikationen | Prüfverfahren |
|---|---|---|
| Spezifischer Widerstand | 0.4-1.1 <Ω·cm> | Siliziumwafer-Sortierer |
| Minorit?tstr?ger-Lebensdauer | ≥ 70 <μs> | Lebensdauer-Tester BCT-400 |
| Sauerstoffgehalt | ≤16 |
Fourier-Transform-Infrarot-Spektroskopie FTIR (ASTM F121-83) |
| Kohlenstoffgehalt | ≤1 |
Fourier-Transform-Infrarot- Spektroskopie FTIR (ASTM F123-91) |
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